正态Capability Sixpack 的组内能力 | minitab cpk計算
... 以外，过程还可能存在其他变异源。
在执行能力分析之前使用控制图验证过程是否稳定。
Minitab 使用子组内标准差计算过程潜在能力的Cp、Cpk 和其他度量。
menuMinitab® 18支持正态CapabilitySixpack的组内能力了解关于Minitab18 的更多信息对于随正态CapabilitySixpack提供的每个组内能力统计量，查找定义和解释指导。
关于本主题标准差（组内）CpCpk预期“组内”性能的合计PPM潜在（组内）能力的基准Z值标准差（组内）组内标准差是子组内变异的估计值。
如果以正确方式对数据进行收集，子组内变异不应受到过程输入变化的影响，例如工具磨损或不同的材料批次。
在这种情况下，组内标准差表示在一段较短时间内过程发生的自然和固有变异。
如果消除了子组间的偏移和漂移，它将表示过程的潜在变异。
注意如果您在执行能力分析时使用数据变换，Minitab还会计算标准差（组内）*，即变换的数据的子组内标准差。
解释将子组内标准差与整体标准差进行比较。
如果子组内标准差和整体标准差之间的差异很大，则表明过程可能不稳定，或者除子组内变异以外，过程还可能存在其他变异源。
在执行能力分析之前使用控制图验证过程是否稳定。
Minitab使用子组内标准差计算过程潜在能力的Cp、Cpk和其他度量。
CpCp是对过程潜在能力的度量。
Cp是用于比较下列两个值的比值：规格散布(USL–LSL)过程基于子组内标准差的散布（6-σ变异）Cp基于过程变异而非过程位置评估潜在能力。
解释可使用Cp根据过程散布评估过程的潜在能力。
潜在能力表示在消除过程偏移和漂移后能够实现的能力。
由于Cp不考虑过程的位置，所以它只说明过程在处于中心位置时可以获得的潜在能力。
总体上讲，Cp值越高，过程的能力越高。
Cp值低表明可能需要改进过程。
低Cp值在此例中，规格散布小于子组内过程散布。
因此，Cp值较低(0.80)，并且过程的潜在能力较差（基于过程变异）。
高Cp值在此例中，规格散布显著大于子组内过程散布。
因此，Cp值较高(2.76)，并且过程的潜在能力较好（基于过程变异）。
您可以将Cp与其他值进行比较，以获取有关过程能力的更多信息。
将Cp与基准值进行比较以评估过程的潜在能力。
许多行业都使用基准值1.33。
如果Cp比基准值低，则考虑如何通过减少过程变异来改进过程。
比较Cp和Cpk。
如果Cp和Cpk大致相等，则过程位于两个规格限制之间的中心位置。
如果Cp和Cpk不同，则过程不位于中心位置。
警告由于CP指数不考虑过程的位置，它并不表示过程与规格限所限定的目标区域的接近程度。
例如，以下图形显示了两个具有相同Cp值的过程，但其中一个过程落在规格限内，而另一个则没有。
Cp=3.13Cp=3.13要进行完整的准确分析，请结合其他能力指数（如Cpk）使用这些图形，以便根据数据得出有意义的结论。
CpkCpk是对过程潜在能力的度量，等于CPU和CPL的最小值。
Cpk是用于比较下列两个值的比值：过程均值到最近规格限（USL或LSL）的距离过程基于子组内标准差的单侧散布（3-σ变异）Cpk评估过程的位置和变异（子组内）。
解释可使用Cpk根据过程位置和过程散布评估过程的潜在能力。
潜在能力表示在消除过程偏移和漂移后能够实现的能力。
总体上讲，Cpk值越高，过程的能力越高。
Cpk值低表明可能需要改进过程。
低Cpk在此例中，过程均值到最近规格限(USL)的距离小于单侧过程散布。
因此，Cpk值较低(0.80)，并且过程的潜在能力较差。
高Cpk在此例中，从过程均值到最近规格限(LSL)的距离大于单侧过程散布。
因此，Cpk值较高(1.64)，并且过程的潜在能力较好。
您可以将Cpk与其他值进行比较，以获取有关过程能力的更多信息。
将Cpk与基准值（代表可接受的过程最小值）进行比较。
许多行业都使用基准值1.33。
如果Cpk比基准值低，则考虑如何改进您的过程，例如减少其变异或改变
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Minitab 使用子组内标准差计算过程潜在能力的Cp、Cpk 和其他度量。
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关于本主题标准差（组内）CpCpk预期“组内”性能的合计PPM潜在（组内）能力的基准Z值标准差（组内）组内标准差是子组内变异的估计值。
如果以正确方式对数据进行收集，子组内变异不应受到过程输入变化的影响，例如工具磨损或不同的材料批次。
在这种情况下，组内标准差表示在一段较短时间内过程发生的自然和固有变异。
如果消除了子组间的偏移和漂移，它将表示过程的潜在变异。
注意如果您在执行能力分析时使用数据变换，Minitab还会计算标准差（组内）*，即变换的数据的子组内标准差。
解释将子组内标准差与整体标准差进行比较。
如果子组内标准差和整体标准差之间的差异很大，则表明过程可能不稳定，或者除子组内变异以外，过程还可能存在其他变异源。
在执行能力分析之前使用控制图验证过程是否稳定。
Minitab使用子组内标准差计算过程潜在能力的Cp、Cpk和其他度量。
CpCp是对过程潜在能力的度量。
Cp是用于比较下列两个值的比值：规格散布(USL–LSL)过程基于子组内标准差的散布（6-σ变异）Cp基于过程变异而非过程位置评估潜在能力。
解释可使用Cp根据过程散布评估过程的潜在能力。
潜在能力表示在消除过程偏移和漂移后能够实现的能力。
由于Cp不考虑过程的位置，所以它只说明过程在处于中心位置时可以获得的潜在能力。
总体上讲，Cp值越高，过程的能力越高。
Cp值低表明可能需要改进过程。
低Cp值在此例中，规格散布小于子组内过程散布。
因此，Cp值较低(0.80)，并且过程的潜在能力较差（基于过程变异）。
高Cp值在此例中，规格散布显著大于子组内过程散布。
因此，Cp值较高(2.76)，并且过程的潜在能力较好（基于过程变异）。
您可以将Cp与其他值进行比较，以获取有关过程能力的更多信息。
将Cp与基准值进行比较以评估过程的潜在能力。
许多行业都使用基准值1.33。
如果Cp比基准值低，则考虑如何通过减少过程变异来改进过程。
比较Cp和Cpk。
如果Cp和Cpk大致相等，则过程位于两个规格限制之间的中心位置。
如果Cp和Cpk不同，则过程不位于中心位置。
警告由于CP指数不考虑过程的位置，它并不表示过程与规格限所限定的目标区域的接近程度。
例如，以下图形显示了两个具有相同Cp值的过程，但其中一个过程落在规格限内，而另一个则没有。
Cp=3.13Cp=3.13要进行完整的准确分析，请结合其他能力指数（如Cpk）使用这些图形，以便根据数据得出有意义的结论。
CpkCpk是对过程潜在能力的度量，等于CPU和CPL的最小值。
Cpk是用于比较下列两个值的比值：过程均值到最近规格限（USL或LSL）的距离过程基于子组内标准差的单侧散布（3-σ变异）Cpk评估过程的位置和变异（子组内）。
解释可使用Cpk根据过程位置和过程散布评估过程的潜在能力。
潜在能力表示在消除过程偏移和漂移后能够实现的能力。
总体上讲，Cpk值越高，过程的能力越高。
Cpk值低表明可能需要改进过程。
低Cpk在此例中，过程均值到最近规格限(USL)的距离小于单侧过程散布。
因此，Cpk值较低(0.80)，并且过程的潜在能力较差。
高Cpk在此例中，从过程均值到最近规格限(LSL)的距离大于单侧过程散布。
因此，Cpk值较高(1.64)，并且过程的潜在能力较好。
您可以将Cpk与其他值进行比较，以获取有关过程能力的更多信息。
将Cpk与基准值（代表可接受的过程最小值）进行比较。
许多行业都使用基准值1.33。
如果Cpk比基准值低，则考虑如何改进您的过程，例如减少其变异或改变