在本書中，作者概述了這些創新的有價值的例子，並給人們機會看到它們在應用於高分辨率模-數（A-D）轉換器（ADC）開發時的優勢。更具體地，讀者可以發現本書的主要貢獻在於：使用時間交織的信號處理和校准的多步A-D轉換器的設計、用於這些轉換器的完全可觀測性和可控性的DfT（可測性設計）技術的提出和實現、可以識別過程參數變化的傳感器網絡的方法與設計、使用小型樣本來估計過程變化的算法的建議以及用於晶片級測試的測試模式生成器的開發。 阿米爾·齊亞約(Amir Zjajo)和何塞·皮內達·德傑韋茲( José Pineda de Gyvez)都是飛利浦研究實驗室以及恩智浦半導體公司研究所和大學機構在低功耗設計和測試領域的知名研究人員，他們的書和期刊出版物目前是深亞微米技術領域中理解、設計、測試和調試的不可或缺的參考。